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加熱高溫微型真空探針臺KT-Z165M4RT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為φ30，臺面最高可升溫到最高400℃。臺面四周裝有微型3軸可移動鎢鋼探針，特別適合微小未封裝的叉指電極等傳感器測試。

高低溫真空探針臺4探針探針臺主要應用于傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。

低價的低溫室溫真空探針臺KT-Z165M4RT精巧型真空腔體測試腔主要用于氣體敏感材料或其他對環(huán)境敏感性材料中的電信號測試。測試腔體內(nèi)部裝有不銹鋼加熱承載臺，臺面為φ30，臺面高可升溫到高400℃。

該探針臺的承片臺X/Y/Z三個方向均可在真空環(huán)境下調節(jié)，其中X方向調節(jié)范圍：0－30mm；y方向調節(jié)高低溫控制真空探針臺 * 范圍：0－13mm；z方向調節(jié)范圍：0－13mm；用戶可根據(jù)需要自行調節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微調探針支架X/Y/Z 方向行程，通過顯微鏡觀察，使探針對準檢測點后，即可進行檢測。

光學環(huán)境真空微腔探針臺 測試腔：同時滿足靜態(tài)/動態(tài)測試，304不銹鋼材質，可在紫外燈下保證氣密性測試； 測試樣品數(shù)：同時測試8個樣品，可進行頻率-阻抗測試、插指電極和場效應管測試；